- ISO 9220:1988
- изд.1 C TC 107/SC 2Покрытия металлические. Измерение толщины покрытия. Метод применения растрового электронного микроскопа—————раздел 25.220.40
Стандарты Международной организации по стандартизации (ИСО). Каталог (в 2-х частях). — М.: ФГУП «СТАНДАРТИНФОРМ». 2008.